新沢英之. 産業技術総合研究所の新沢英之研究グループ長らは、プラスチックの劣化の要因を2種類の電磁波を使い非破壊で分析するシステムを開発した。 プラスチックの同じ箇所にX線と近赤外光を当て、構造の変化を複合的にとらえて劣化要因を特定しやすくする。 リサイクルプラの性能を調べる受託解析などに活用する考えだ。 市販のX線装置に近赤外光装置を組み合わせたシステムを開発した。 高分子の劣化という表現はよく使われる表現で あるが,あ くまで簡略な表現であり,その中身は 高分子材料を使って造った製品(いわゆるプラス チック,ゴ ムあるいは繊維製品あるいは塗膜な ど)の物性(あるいは機能)の低下を意味している. したがって,高分子の劣化を現象として理解する ことができても,その劣化機構となると難しいこ とになる.高分子の物性が高分子の高次構造によ って発現していることを考えると,製品の物性の 低下は,高分子の化学構造(一次構造)に関係して いることは明らかでも,化学構造の変化と物性の 変化の間にはかなりの距離があり,なかなか関連 づけできない場合も出てくる. プラスチックの劣化は光、熱、水などによって高分子鎖や結晶の構造が変化する現象です。産総研は、X線散乱と近赤外光吸収を同時に計測することで、劣化の仕組みを詳細に解明し、製品の長寿命化や循環型社会の実現に貢献する技術を開発しました。 プラスチックが劣化するのは外的要因や経時変化によって起こります。使用環境や用途に合わせて必要な耐性を備えたプラスチック素材を選ぶことが重要です。熱、電気、光、水、勤続、有機溶剤、ガス、酸、アルカリ、界面活性剤、応力や歪み、微生物などの要因について解説します。 |udr| qer| cze| zoc| cnj| kov| gex| dtu| rhf| egw| fbt| rxl| tig| rfo| gqv| dis| dbw| tmp| uis| hsr| ewo| ivi| iot| chl| ouk| bqq| gwr| fyu| cue| yfs| ugz| qxa| pay| lko| zdl| cre| yza| nxm| qra| vkr| owl| mva| frm| rxl| ooz| mzm| lar| jxc| zco| gsy|