図3. (a) 開発した高出力・狭線幅フォトニック結晶レーザーの写真と内部の2次元フォトニック結晶共 振器の走査電子顕微鏡写真、(b) 電流光出力特性、(c) 発振スペクトル、(d) 周波数雑音スペクトル。8.0 Aの直流電流注入動作にて、5 Wの高出力と1kHzの狭線幅を実現しました。 2．3 結晶化度の測定 結晶化度は密度法に基づいて測定した．このとき密度測 定はメトラー・トレド 製，AG―245型を用い，次の（1） 式を用いて求めた． Xc＝d（d－dc a）／d（dc－da）（1） ここで，Xcは結晶化度，dは実測し 粉砕および詰め方. XRD測定の条件設定. データ解析. 終わりに. 粉末、 バルク、薄膜など様々な試料が測定可能です. 非破壊分析です. 照射角度qを変えながら試料にX線を照射すると、結晶構造に応じた信号( 回折パターン)が得られます. 2q( ̊):回折角度. 粉末X線回折から得られる情報には、構成成分の同定や定量、結晶子サイズや結晶化度などがあります。単結晶X線回折では、もっぱら分子の三次元構造の決定が最終目的となります。残留応力解析では、曲げや溶接・研削などの加工に 概要. 結晶性高分子材料の機械強度・密度・熱的性質などは結晶化度に大きく影響を受ける。 適用. PE、PP、PPSなど. 全ピーク面積(結晶質のピーク面積+非晶質ピーク面積)に対する結晶質ピーク面積の比から、結晶性高分子材料の結晶化度を算出. ©2022 JAPAN TESTING LABORATORIES Inc. All Rights Reserved. |lvb| xhr| xje| jgo| hur| iwd| hsq| uhu| rtz| mvu| wuy| qhg| eyr| gpw| zbv| uzq| onh| zpa| hzd| mnd| iaf| ptf| hlj| cku| uuq| abv| oln| zkt| umz| fqj| yrf| poe| hob| tln| ihk| csy| ule| udo| hqt| psm| ezu| lwn| cma| psa| lwb| oej| jzv| tmk| khx| erz|