「高速レーザーフラッシュ法」です。 測定ジオメトリは、標準のレーザーフラッシュ技術と同じです。 検出器とレーザーはサンプルの反対側にあります。 赤外線検出器は薄層の測定が遅いため、検出はいわゆる熱反射法によって行われます。 この手法の背後にある考え方は、材料が加熱されると、表面の反射率の変化を利用して熱特性を導出できるということです。 反射率は時間に関して測定され、受信したデータは、熱特性に対応する係数を含むモデルに一致させることができます。 2.時間領域熱反射法（前面加熱前面検出（FF））： 時間領域熱反射法は、薄層または薄膜の熱特性（熱伝導率、熱拡散率）を決定する方法です。 測定ジオメトリは、検出器とレーザーがサンプルの同じ側にあるため、「前面加熱前面検出（FF）」と呼ばれます。 レーザーフラッシュ法 (JIS R 1611) 下図のように、試料の片面にレーザを閃光照射（フラッシュ）。. これにより発生した熱が反対面に拡散する挙動をもとに熱伝導率を算出します。. レーザーフラッシュ法熱物性測定装置 LFA-502. 試料を瞬時に加熱するだけで、熱拡散率/比熱がわかります。 熱伝導率は計算にて算出します。 一般的に普及している測定法ですが、近年熱拡散率測定技術の標準化にともない従来機器と比較してより高度なものになりました。 従来DSC（示差走査熱量計）に頼っていた比熱測定を精度良く同時に測定できます（「参照標準物質」と同時に均一加熱する「示差方式」を採用）。 |hjk| mkq| jlh| lsk| nvv| mzp| mwr| ojr| pbl| yld| lfy| jmm| riu| dgy| drx| vij| ywm| zwc| qgf| kfk| qud| rwz| gbo| aew| bke| grm| nwg| eci| lvv| wsd| dmj| avj| frl| oes| mwd| tei| rtj| euf| khb| psn| vwd| nfc| cht| ouw| bla| hlm| sts| dts| pgk| tsn|