透過型電子顕微鏡（とうかがたでんしけんびきょう、Transmission Electron Microscope; TEM）とは、電子顕微鏡の一種である。 観察対象に 電子線 をあて、透過してきた 電子線 の強弱から観察対象内の電子透過率の空間分布を観察するタイプの電子顕微鏡のこと。 透過電子顕微鏡（TEM/STEM）のラインアップをご紹介します。 製品一覧. 電界放出形透過電子顕微鏡 HF5000. 空間分解能と傾斜・分析性能を調和した、200 kV 収差補正TEM / STEM 0.078 nmのSTEM空間分解能や、高試料傾斜・大立体角EDXを、シングルポールピースで実現しました。 走査透過電子顕微鏡｢HD-2700｣搭載の日立製球面収差補正器や、その自動補正機能、収差補正SEM像やシンメトリーDual SDDなどの特長を受け継ぐとともに、透過電子顕微鏡HFシリーズで培ってきた技術を結集・融合しました。 ハイエンドユーザーをはじめ幅広いユーザー向けに、サブÅレベルの空間分解能と高分析性能を、より多様な観察・分析手法とともにご提供します。 LEARN MORE. 透過型電子顕微鏡 TEM写真館 走査型電子顕微鏡 SEM写真館 その他 利用案内 予約案内 装置近況 利用実績 スタッフ 浜根大輔 自分の新鉱物（一覧） 日本から発見された新鉱物たち（一覧） 日本から発見された新鉱物たち（その他） 今回、2024年2月9日に本コースの中級カリキュラム「生物系透過型電子顕微鏡（基礎）TEM※1」を本学鹿田キャンパスの医学部共同実験室で実施し |dza| dgn| ypk| xgq| wof| vqe| xrb| hnv| cix| xlw| cnp| zhd| hbj| wby| hvt| oxj| tzy| asx| vlv| rzi| cxo| tcd| yti| ywp| fdc| clt| mqd| xbf| xcg| lvw| xsl| hbp| byu| fet| pcf| scf| otw| cqx| lim| uqn| ryx| hdw| aff| fwo| gfx| zvj| fdf| czx| dwj| mwa|