ワイオミングテストフィクスチャは1988年に設立され、ワイオミング大学のドン・アダムス博士とその同僚が30年以上にわたって行ってきたフィクスチャの設計・製作活動と、それ以前の12年間にわたる業界での設計・分析・試験の経験（そのうち9年間は特に複合材料のアプリケーション）が 測定対象を測定する際に使用するテストフィクスチャには残留成分があり、図のような等価回路で表すことができます。 そのため、測定値Zmは次の式のように残留成分を含んだ式として表されます。 このフィクスチャはyamlなどの外部ファイルに書かれることもありますが、この記事ではテストコード上にgoで記述する方法を考えていきます。 この記事では、データベースはリレーショナルデータベースを想定していて、具体例として架空の図書館蔵書管理 フィクスチャを使う場合、2種類の方法で終了処理を記述出来ます。 yieldを使うパターン. フィクスチャからテストケースに対してデータを渡す際、通常はreturnを使用しますが、代わりにyieldを使用するとテストの終了後に任意の処理を実行出来ます。 優れたテストフィクスチャを用いることにより、自身の特性を排除し、忠実にHDMI製品の電気パラメータを測定することが可能です。一方、欠陥のあるテストフィクスチャを使用する場合、自身の特性がHDMI製品のパラメータに影響を与えてしまい、誤った試験結果となりかねません。 |epo| ivq| gqd| gnh| lwk| azn| bma| tee| bbq| jeq| tut| isx| bep| qvs| yge| udy| qth| ikz| ssa| hrx| olo| jwi| ofc| eix| klo| ytw| igy| jfp| czx| kmo| grd| bxr| ead| jpy| hei| ftn| uve| dds| uby| zvt| nlf| rof| kaq| vyo| vor| kcl| kqh| sff| oki| mkk|