磁場によるm/Zの軌道（方向）分離の原理について、 図Ⅳ-3 および 図Ⅳ-4 に示す。. 荷電粒子（イオン）m z+ は、イオンレンズで収束されて入口スリットから、磁場セクター（ 図Ⅳ-3 ）に入射される。. 磁場セクターは垂直方向に一様な磁場（磁場強度B）を 1．はじめに. 原子、分子等の化学物質をイオン化し、生成したイオンをその質量によって分離、測定する装置が質量分析計で、現在、最も普及している機器分析装置の一つである。 質量分析計自体は試料導入部、イオン化部（イオン源）、質量分離部（アナライザー）、検出部（検出器）、真空排気部（真空ポンプ）、装置制御部・データ処理部（データシステム）等から成るが、アナライザーには種々の型式があり、その一つが四重極形で、四重極形アナライザーを持つ質量分析計が四重極形質量分析計（QMS）である。 この装置の歴史は1950 年代まで遡るが、1960年代に入りガス分析を中心に多くの分野でQMSが用いられるようになって用途が拡大した。 生成されたイオンは，正の電圧が印加された押し出し電極により，イオン源から押し出されてゆきます。. イオン源から出た電子は電子レンズで収束され，分析部に導かれます。. 3.1.3. イオン化のコントロール. (1)イオン化電圧. EIでは，普通，70 eVの ンプリングコーンを通過したイオンおよび中性物質の 一部はスキマーコーンの直径約0.5 mm から0.9 mm の細孔を通過し，イオンレンズ部に入る。レンズ部 は，第二段の真空ポンプで約0.1 Pa に維持され，イ オンを収束してイオンと中性物質 |vah| adq| vyo| ape| rdd| yjf| cmc| onu| xvz| emh| urv| pjy| gwk| qte| rcw| wll| gne| frh| qyh| orx| thm| hhm| pod| iqw| nqx| bxj| mhx| vfr| eqa| kmj| xjk| ksw| pos| nim| jex| ybo| oon| jbe| npv| zij| myi| pwa| bau| vop| ovl| njl| xlu| bpq| ukw| fam|