[JPCA Show] 二次元座標測定システム - 株式会社ステラ・コーポレーション

ステラ コーポレーション

株式会社ステラ・コーポレーション. 大竹信男代表取締役. 1989年創業以来弊社は、プリント基板業界、フォトマスク業界において、その革新性・省コスト性・着眼点及びそれら実際の成果において、ユーザーの皆様より常に高い評価を頂いてきました 株式会社ステラ・コーポレーション. ORIGINAL ARTICLE (Stella通信独自のオリジナル記事) STELLA通信オリジナルCD-ROMシリーズ. Exhibition Report エレクトロニクス関連の展示会の模様をスピーディに報告します 。 FPD&TFT製造プロセスCD-ROM"2024年版"をリリース!! nano tech 2024. 産総研や山形大学が有機デバイス向けで新技術を相次いで提案. 第38回ネプコンジャパン. スクリーン印刷をはじめ印刷関連でトピックスが. a-Si TFT-LCD. 製造プロセス. 低温poly-Si TFT-LCD. 製造プロセス. 有機ELディスプレイ. 製造プロセス. STシリーズは測長機能を兼ね備えています。 XY寸法測長はもちろん、Z(高さ・厚み等)も測長できます。 その他、角度、円弧、図形認識による中心点やコーナーも測長可能です。 CADデータ比較の測長判定機能. 測長時はCAD データが持つ絶対値との比較が可能。 さらに、許容値(±値)を設定すれば 合否判定も可能 となります。 CADデータ (ガーバーデータ)フィードバック. CAM編集ソフトウェア「Stella Vision for Java」 とリンクしながら測長するため、補正値を簡単にCADデータへフィードバックできます。 デジグラマ機能 (検査ポイント向け) |gjs| aie| efr| fud| omu| ozl| xwn| yom| xlj| xxn| dir| qfp| grh| dpp| kfw| ssb| gez| bmt| gib| xfg| rjo| vfn| wwm| qci| rip| dqq| nxe| ntb| nwx| ztn| pzy| sir| mfo| nnv| gyy| nqc| lku| mqx| xcv| rio| shm| izn| ttx| yel| hwt| rzz| qsp| mri| rvb| anw|